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| 미국 특허상표청, 특허품질 관련 웹 세미나 개최 예정 |
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| 구분 | 미국 | 자료출처 | www.uspto.gov | ||||||||||||||||||||||||
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| 분류 | 인프라 > 교육/인력양성 및 지원 > 세미나/심포지엄 개최 | ||||||||||||||||||||||||||
| 기관구분 | 공공 | 주체기관 | 미국 특허상표청 | ||||||||||||||||||||||||
| 통권 | 2017-23 호 | 발행년도 | 2017 | ||||||||||||||||||||||||
| 발행일 | 2017-06-08 | ||||||||||||||||||||||||||
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• 2017년 6월 3일, 미국 특허상표청(USPTO)은 웹 세미나 시리즈 중에서 특허품질 관련 세미나인 ‘Patent Quality Chat’을 오는 6월 13일에 개최한다고 발표함
- (개요) ‘Patent Quality Chat’ 시리즈는 특허품질 주제에 대한 정보를 제공하고, 웹 세미나를 통해 정기적으로 의견을 수집하며, 각 세미나는 약 20분 동안 발표와 질의 시간으로 구성됨 - (주요내용) 동 세미나에는 특허공공자문위원회 Greg Vidovich 부위원과 특허품질보증국 Jim Dwyer 국장이 최근의 특허품질 측정 기준의 발전에 대해 발표할 계획이며, 주요내용은 다음과 같음 ∙ (제품 지표(Product indicators)) 정확성과 명확성에 초점 ∙ (과정 지표(Process indicators)) 효율성 및 일관성 추적 ∙ (인식 지표(Perception indicators)) 위 두 지표의 인증
• 한편, 미국 특허상표청은 향후 ‘Patent Quality Chat’ 시리즈는 품질 측정 기준, 검색 개선 및 특허 옴부즈맨과 같은 주제로 개최된다고 밝힘 |
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