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미국 특허상표청(USPTO), 특허 품질 향상을 위한 의견 요청
구분  미국 자료출처   www.patentdocs.org
분류   인프라 > 정책수립 및 지원 > 지식재산정책연구
기관구분   공공 주체기관  미국특허상표청
통권  0 호 발행년도  2009
발행일  2009-12-13

□ 미국 특허상표청(USPTO), 특허 품질 향상을 위한 의견 요청  

 ○ USPTO와 특허 공적자문위원회(Patent Public Advisory Committee, PPAC)는 특허의 질을 개선하고 출원 지체를 줄이는 동시에 승인된 특허의 유효성을 보장하기 위한 프로젝트를 마련함
  - USPTO는 2009년 12월 9일 연방관보(74 Fed. Reg. 65093)를 통해 구상하고 있는 프로젝트의 내용을 제시하고 이에 대한 의견을 수렴 중임

 ○ USPTO는 올해 심사품질 측정수단을 변경할 예정임
  - 과거에는 승인준수율(Allowance Compliance Rate)과 출원과정(IPR) 검토준수율(In-Process Review(IPR) Compliance Rate)을 심사품질 측정의 수단으로 사용하였음
   * 승인준수율 : 승인된 출원에서 무작위로 표본을 선택하여 청구의 특허성과 기록의 완전성, 심사관 검색의 품질을 측정하는 방법임
   * 출원과정 검토준수율 : 승인을 받기 전 특허청 조치를 수령한 출원 표본을 무작위로 선택하여 특허청의 거부조치가 적절한 것인지, 심사관이 출원 거부의 근거를 분명히 제시하였는지, 심사관의 검색 품질이 충분한지를 검토하는 방법임
  - 2005~2009년 IPR 준수율은 USPTO의 최종적인 조치와 결정에 해당하지 않는 조치를 모두 포함하였으나 2010 IPR 준수율은 최종결정이 아닌 조치만을 포함할 것이며 승인준수율은 최종 거부/승인 준수율(Final Rejection/Allowance Compliance Rate)로 변경될 것임

 ○ 특허와 특허품질 측정방법을 개선하기 위해 USPTO는 다음과 같은 부문에서 퍼블릭 코멘트를 수렴하고자 함
  - 현행 및 향후 채택될 품질 측정 방법에 대한 의견
  - 특허절차 기간을 단축할 수 있는 절차에 대한 의견
  - 출원과정의 지연을 단축하는 동시에 출원 심사와 승인된 특허의 품질을 향상시킬 수 있는 의견
  - USPTO의 시범 프로그램과 품질 및 지연문제 해결에서 시범 프로그램이 담당하는 역할에 관한 의견
  - USPTO의 특허 조사 활동에 대한 평가 및 개선 사항에 관한 의견
  - USPTO 절차의 질을 개선을 돕는 의견
  - 특허품질의 개선을 위한 출원인과 USPTO 직원 노력에 대한 인센티브 제공 방안에 관한 의견