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미국 특허상표청, 특허품질과 품질 측정기준에 대한 토론회 개최 예정
구분  미국 자료출처   www.ag-ip-news.com
분류   인프라 > 교육/인력양성 및 지원 > 세미나/심포지엄 개최
기관구분   공공 주체기관  미국특허상표청
통권  2010-18 호 발행년도  2010
발행일  2010-05-02

◯ 미국 특허상표청(USPTO)은 특허공적자문위원회(Patent Public Advisory Committee)와 함께 특허의 품질과 품질 측정 기준을 개선할 수 있는 방안을 논의하기 위한 토론회를 개최할 예정임
  - 특허공적자문위원회 : 기업 대표 및 개인 발명가 등으로 구성이 되어, 특허 정책과 목표, 성과, 예산 및 각종 수수료 등에 대한 타당성을 검토하고 의견을 제시함

◯ USPTO에 따르면 이 토론회는 5월 10일 LA와 5월 18일 Alexandria에서 공개적으로 실시될 것임
  - 1차 토론회는 특허공적자문위원회의 위원인 Robert Stoll과 Marc Adler가 주관하며, LA 중앙도서관에서 개최될 것임
  - 2차 토론회는 USPTO의 David Kappos 청장과 MArc Adler가 주관할 것임

◯ Kappos 청장은 고품질 특허는 특허제도의 올바른 기능에 기여하며, 고품질 특허를 발급하는 것은 USPTO의 최우선 과제라 밝힘. 또한 고품질 특허를 발급함으로써 시장에 확신을 제공하고 기업과 발명가들이 적시에 제품 및 서비스 개발을 결정할 수 있다고 덧붙임

◯ 이 토론회는 인터넷으로 생방송될 것이며 토론회가 시작되기 전에 USPTO 사이트를 통해 토론회 관련 정보를 얻을 수 있음
  - USPTO 특허품질 향상 및 평가기준, 그리고 토론 주제에 대한 의견은 누구나 서면으로 제출할 수 있음. 단, 의견서 제출 기한은 2010년 6월 18일까지임