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| 미국 특허상표청, 특허품질과 품질 측정기준에 대한 토론회 개최 예정 |
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| 구분 | 미국 | 자료출처 | www.ag-ip-news.com |
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| 분류 | 인프라 > 교육/인력양성 및 지원 > 세미나/심포지엄 개최 | ||
| 기관구분 | 공공 | 주체기관 | 미국특허상표청 |
| 통권 | 2010-18 호 | 발행년도 | 2010 |
| 발행일 | 2010-05-02 | ||
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◯ 미국 특허상표청(USPTO)은 특허공적자문위원회(Patent Public Advisory Committee)와 함께 특허의 품질과 품질 측정 기준을 개선할 수 있는 방안을 논의하기 위한 토론회를 개최할 예정임 |
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