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미국 특허상표청, 새로운 특허품질 평가방법 발표
구분  미국 자료출처   www.uspto.gov
분류   창출 > 창출지원제도 정비 > 관련법률/제도 개선
기관구분   공공 주체기관  미국특허상표청
통권  2010-43 호 발행년도  2010
발행일  2010-10-19

◯ 10월 19일, 미국 특허상표청(USPTO)의 David Kappos 청장은 2011 회계연도에 실시할 새로운 특허품질 평가방법을 공개함
  - 새로운 특허품질 평가방법은 7가지 심사 요소를 포함함

◯ 7가지 심사 요소는 다음과 같음
  (1) 출원의 승인결정 또는 최종 거부결정의 품질
  (2) 심사 과정 중에 취하는 조치의 품질
  (3) 심사관의 최초 선행기술 검색의 모범사례 활용 정도
  (4) 실체심사의 모범사례 활용 정도
  (5) 전체 USPTO 데이터에 반영된 효율적인 심사 수준
  (6) 조사를 통해 평가된 출원인과 개업인의 인식 수준
  (7) 조사를 통해 평가된 심사관의 인식 수준

◯ 또한 USPTO는 특허훈련 아카데미를 통해 선행기술, 청구 해석, 검색 전략 등 20여 가지 주제에 관한 훈련을 제공함. 참석자들의 반응에 따라 USPTO는 심사관들이 필요로 하는 법률 및 절차 훈련을 계속할 것임
  - 기술 훈련을 위해 USPTO는 특허 심사관들이 과학자 및 전문가들과 최신기술, 선행기술, 업계 표준에 관한 지식을 나누는 특허심사관 기술훈련 프로그램을 실시함

* 새로운 특허품질 평가방법
http://www.uspto.gov/news/pr/2010/10_48.jsp